阻垢劑的使用

 可用于評定阻垢劑性能的方法很多，如用掃描電子顯微鏡可觀察晶體的成核、生長、聚集和吸附過程。用原子力顯微鏡研究有阻垢劑存在的碳酸鈣晶體的生長，可以看出阻垢劑對生長的抑制作用。用X一衍射法可以比較在不同阻垢劑存在的條件下垢樣的細碎程度、晶體的畸變程度及晶系的變化。用粒徑分布儀可研究在不同阻垢劑存在的條件下，成垢物質(zhì)的成核和生長動力學。但這些方法大多需借助專門的儀器，只能被研究機構(gòu)采納，很難在廣大用戶和現(xiàn)場評定中推廣。